Nikon Metrology Scanning industriel par Tomographie Numérique XT H

Le XT H 225 possède une puissante source microfocus de rayons-X, un grand volume de contrôle et une grande résolution d’image. Il est prêt pour la reconstruction ultra-rapide par Tomographie Numérique. Ses applications sont très variées, qui vont de l’inspection de petites pièces en plastique ou de fonderie, jusqu’à la recherche sur les matériaux et les spécimens naturels, en passant par les mécanismes complexes.

Avantages

• Source brevetée micro-focus de rayons-X 225kV
• Facile d’utilisation et faible coût total de possession
• Images internes stupéfiantes
• Mesure de pièces que les autres sources 225kV ne peuvent pas mesurer
• Acquisition très performante des images et excellent traitement du volume
• Automatisation très directe de l’inspection
• Priorité à la sécurité

On peut obtenir l’image interne de pièces industrielles complexes en examinant la structure interne. Ensuite il faut utiliser la tomographie numérique pour qualifier et quantifier toute dimension intérieure ou extérieure dans un processus sans heurts et non-destructif

Les systèmes aux rayons X et à Tomographie Numérisée offrent une excellente précision et permettent de mesurer de façon simultanée les dimensions internes et externes d’une pièce, sans destruction de la pièce. Leur capacité à donner un aperçu de la quatrième dimension - la densité de la matière, fait de ces technologies des outils indispensables au service de la qualité.