Nikon Eclipse L200N / L200ND
Mikroskopsysteme für die Wafer- und Maskenprüfung (200mm-Wafer) für die Fehlererkennung mit Auflicht
L200
Mikroskopsysteme für die Wafer- und Maskenprüfung (200mm-Wafer) für die Fehlererkennung mit Auflicht.
L200ND
Das ausgereifteste Modell. Mit Durchlicht-Funktionen, die sich ideal für die LCD- und Maskeninspektion eignen.
L200A
Automatische Version des L200. Häufig verwendete Funktionen, wie Blendensteuerung, Fokussierung, Hell-/Dunkelfeldwechsel, Drehung des Objektivrevolvers, Helligkeitsregelung und DIC-Einstellungen sind motorbetrieben und können über externen Controller oder PC gesteuert werden.