Nikon Eclipse L300N / L300ND

Fortschrittliche Optik aus dem Hause Nikon für unvergleichliche Prüfergebnisse von Wafern

Die Baureihe der Nikon Eclipse L300N/L300ND FPD / Wafer Prüfsysteme sind mit der renomierten CFI60 Optik aus dem Hause Nikon ausgestattet.

Die fortschrittliche Epi-Fluoreszenz Funktion, die 365nm UV Anregung ermöglicht, ist für die Prüfung von Ablagerungen auf Wafern und die Untersuchung von Electro Luminescence Displays (ELD) geeignet.